穿透式電子顯微鏡應用前沿研究(1)

       2013海峽兩岸功能材料科技與產業峯會——穿透式電子顯微鏡 (TEM) 應用近年來有兩大突破，一爲超高真空 TEM 臨場（In situ ultrahigh TEM）研究，另一爲球面像差校正 TEM（Cs-corrected TEM）觀測研究。本片中將以雙晶（孿晶）修飾晶粒邊界銅原子擴散、在磊晶（延晶）銀薄膜上成長激發電漿子奈米雷射（等離子納米跡光）等爲例強調這兩類 TEM 在材料科學研究上所展現的獨特應用。